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Spectroscopie Raman ultra basse fréquence
Les nouveaux filtres OptiGrateTM permettent des avancées technologiques importantes en spectroscopie Raman.
Orlando, Fla.... (Sept. 27, 2010) - OptiGrate Corp., une compagnie high-tech basée à Orlando (Floride) vient de mettre sur le marché une nouvelle gamme de filtres Noch à réseau de Bragg avec une bande de réjection très étroite particulièrement bien adaptées à la spectroscopie Raman.
"This new filter technology will make a crucial impact on the Raman instrumentation world." says OptiGrate's CEO Dr. Alexei Glebov. "The filters enable measurements of ultra-low frequency Raman bands with "standard" instruments, while earlier, it was only possible with more complex, bulky, and obviously more expensive tools. This will largely facilitate an access to ultralow frequency Raman studies, which are vital for many applications in nanotechnology, pharma, semiconductor processing, and so on."
Hans-Jürgen Reich, director of the Raman division of HORIBA commented that "This is an exciting development in Raman spectroscopy and is an ideal illustration on how the technique is moving out from the research laboratory and into the analytical world. No longer confined to large research systems or complex and expensive instruments such as Far IR or TeraHertz spectrometers, the new ULF module opens up this field to the routine analyst – measurements in a few seconds or minutes are obtained with no fuss and without limitation. It has the potential to advance Raman spectroscopy in some very important applications like pharmaceutical development and semiconductor processing."
Installés sur un LabRamTM HR de chez Horiba Scientific Jobin-Yvon, on obtient les performances suivantes :

LabRamTM HR, spectromètre à simple monochromateur dédié à la spectroscopie Raman, équipé de l'accessoire ULF (Ultra Low Frequency).

Modes de vibration basse fréquence du soufre obtenus avec l'accessoire ULF installé sur un LabRamTM HR.

Spectres Raman à basse fréquence de L-Cysteine obtenus pour différentes longueurs d'onde laser.

Spectre Raman à 633 nm d'un super-réseau de SiGe.
Crédits :
P. H. Tan, State Key Laboratory for SL and Microstr., Institute of Semiconductors, Beijing, P. R. China
K. Brunner, University Wurzburg, Germany
Conclusions
Le module développé est conçu pour les longueurs d'onde spécifiques. Actuellement 785 nm, 633 nm, 532 nm et 488 nm ont été testés.
Un accès facile à la fois Stokes et Anti-Stokes à 5 cm-1 de la raie Rayleigh est maintenant actif sur un spectromètre multicanal en une seule étape avec le module ULF. La fenêtre de transmission des filtres à réseau de Bragg volumique (VBG) s'étend à plus de 2.5 microns de telle sorte que l'accessoire ULF ouvre la possibilité d'effectuer simultanément la mesure Raman basse fréquence ainsi que le signal de photoluminescence induit par laser.
Les lasers à diode nécessitent un filtrage parfait pour éviter l'influence des bandes latérales du spectre laser à 785 nm en dessous de 20 cm-1. Les performances ne sont pas encore atteintes avec de tels laser source disponibles actuellement. Des travaux sont en cours pour fournir une solution à court terme à ce problème lié aux sources laser à semiconducteurs.
Les utilisateurs qui ont des applications qui nécessitent un accès à la fenêtre basse fréquences Raman à diverses longueurs d'onde d'excitation (pour les études de résonance par exemple) sont encore mieux équipés en utilisant un triple monochromateur du type T64000 produit par HORIBA Jobin-Yvon.
  En savoir plus
Le champ d'application est vaste :
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Polymorphes pharmaceutiques
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Modes LA des polymères
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Semiconducteurs nanostructures
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Materiaux : phase/structure
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Halogénures de métaux
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Phases gazeuses
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Nanotubes de carbone
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Micro, nano-cristaux
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